Laboratorio de Microscopía

Equipos para preparación Metalográfica

• Cortadora de alta velocidad marca Labtronic Scientific, modelo Bulumount
• Cortadora de disco de diamante de baja velocidad marca Strues, modelo Accutom-5
• Montadoras, pulidoras y desbastadoras de marcas líderes en el mercado, tales como Buehler, Struers, Extec
• Equipo de preparación de sección transversal con haz de iones (cross section polisher) marca Jeol, modelo 

Microscopios Ópticos y Análisis de Imágenes

• Microscopio Digital marca Keyence, modelo VHX-6000. Rango de observación 20X-5000X. Opera con luz reflejada y luz transmitida.
• Microscopio Optico marca Olympus, modelo VANOX, modelo AHMT3. Rango de observación de 50X-1000X. Técnicas de observación de campo claro, campo oscuro, luz polarizada, filtros de colores (verde, azul y rojo) e interferometría de Normasky
• Estereomicroscopio marca Olympus, modelo SZ 40. Magnificaciones de 6.7X-80X
• Microscopio metalográfico marca Nikkon
• Microscopio petrográfico marca Leica, modelo DMEP. Magnificaciones 50X-1000X
• Analizador de imágenes Image Pro Plus, versión 4.1. Incluye módulo de análisis de materiales que contiene medición de tamaño de grano (ASTM E112), porcentaje de fases, medición de espesores, entre otros.

Microscopios Electrónicos de Barrido Convencionales

• Microscopios Electrónicos de Barrido de filamento de Tungsteno, marca Philips modelo XL30 ESEM (2 equipos), los cuales operan en alto y bajo vacío, además de presión variable. Imágenes de electrones secundarios y retrodispersados. Uno de ellos está equipado con un sistema EDS y EBSD marca EDAX, modelo Pegasus y el otro cuenta con un sistema de EDS marca EDAX, modelo Génesis

Microscopios Electrónicos de Barrido de Alta Resolución

• Microscopio Electrónico de Barrido con emisión de campo, marca Jeol, modelo 7800F Prime, con una resolución de 0.7 nm. Equipado con un sistema de EDS y EBSD marca Bruker, modelo Quantax. Detectores de electrones secundarios, retrodispersados y STEM.
• Microscopio electrónico de barrido con haz de iones focalizados (FIB, Dual Beam) marca FEI, modelo Scios, con una resolución de 0.7 nm. Cuenta con un cañón de electrones de emisión de campo y un cañón de iones de galio. Observación con electrones secundarios, electrones retrodispersados, STEM e imagen de iones. 

Microscopio Electrónico de Transmisión

• Microscopio electrónico de Transmisión marca FEI, modelo Talos F200, con una resolución de 0.16 nm. Equipado con 4 detectores EDS marca FEI. Observaciones en modo TEM campo claro, campo oscuro, HRTEM, STEM y SAED

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