Seminario Dr. Yoanlys Hernandez B.
LA SECCIÓN DE ELECTRONICA DEL ESTADO SÓLIDO
DEL DEPARTAMENTO DE INGENIERÍA ELECTRICA
INVITA AL SEMINARIO QUE IMPARTIRÁ EL
DR. YOANLYS HERNÁNDEZ BARRIOS

CON EL TITULO
“Más allá del silicio: propuestas de investigación en SiC/GaN y TFTs/TFETs-2D para la próxima generación de circuitos integrados”
RESUMEN
Es un honor para mí participar en este seminario y compartir con ustedes una breve semblanza de mi trayectoria académica y profesional, así como las líneas de investigación que estoy impulsando. Mi experiencia se ha enfocado en el diseño y modelado de dispositivos y circuitos integrados, explorando alternativas más allá del silicio tradicional.
El silicio ha sido la base del diseño de circuitos integrados durante décadas, consolidándose como la tecnología dominante en la industria microelectrónica. No obstante, la continua miniaturización ha llevado a enfrentar limitaciones físicas y de desempeño que restringen su aplicación en escenarios emergentes de alta potencia y bajo consumo. Entre estas limitaciones destacan las pérdidas de eficiencia en conmutación, la imposibilidad de operar de manera confiable a temperaturas elevadas y la dificultad de escalar más allá de nodos tecnológicos avanzados. En este contexto, los dispositivos de banda prohibida ancha, como el SiC y el GaN, junto con los TFTs/TFETs basados en materiales 2D, se perfilan como alternativas disruptivas que ofrecen mejoras sustanciales en eficiencia energética, robustez y escalabilidad. Abordar estas tecnologías como sustituto o complemento del silicio es, por tanto, esencial para garantizar el desarrollo de la próxima generación de circuitos integrados, capaces de responder a las crecientes demandas de sostenibilidad, potencia y miniaturización.
En esta charla presentaré propuestas de investigación orientadas a transistores de potencia en SiC y GaN, así como a TFTs/TFETs de materiales 2D para lógica de bajo consumo, destacando su potencial para responder a los retos actuales de eficiencia energética, miniaturización y confiabilidad en la electrónica de próxima generación.
El Seminario se llevará a cabo el día 24 de septiembre de 2025 a las 12:00 p.m. en el auditorio de la Biblioteca Central
Cinvestav-Zacatenco